計測技術研究所/KEISOKU GIKEN 絶縁破壊試験装置

 

絶縁破壊試験装置

JISC2110準拠の絶縁破壊試験が可能な試験装置です。JISC規格の電極治具と気中、油中、気中・油中の3タイプの試験治具と組み合わせ、絶縁破壊試験装置を構築することが可能です。

主な特長

  • 最大20kV(ACまたはDC)まで、油中試験治具においては標準で200℃、特注で250℃までの温度設定が可能。
  • 気中・油中タイプは、常温における油中試験のほか、油槽を取り外することで気中試験を行うことができます。
  • 専用ソフトウェアから、短時間昇圧、段階昇圧試験をPCから制御・測定することが可能です。

最新の半導体研究に

絶縁破壊試験装置

JIS C2 110/ASTM D 149に準拠した半導体および絶縁材料の試験用治具をご紹介します。

  • 気中電極治具装置
気中電極治具装置 JIS C2 110/ASTM D 149に準拠した電極治具で試験可能な試験治具です。出力中に扉開閉されると自動でシャットダウンする安全機能を搭載しています。

 

  • 油中電極治具装置
油中電極治具装置 JIS C 2110/ASTM D 149に準拠。
半導体の昇圧試験ならびに60秒段階昇圧試験にご利用頂ける治具装置です。

 

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