シンクランド(株)  光干渉断層計(OCTシステム)

掲載日:2021.6.17

光干渉断層計(OCTシステム)

OCTとはOptical Coherence Tomography(光干渉断層撮影)の略で、光の干渉を利用してサンプル内部の構造を高分解能・高速で撮影する技術です。
近赤外線を照射して非接触・非侵襲でイメージングできます。

光干渉断層計(OCTシステム)の詳細はこちらのパンフレット(PDF)をご覧ください。

こんなお悩みはありませんか︖

  • 顕微鏡では目視が難しい深さ方向までイメージングしたい
  • 透明なワークにの見つけにくい傷を検知したい
  • テープやフィルムの下の凸凹・傷を調べたい
  • ワークの内部を非破壊で検査したい

OCTをご検討のお客様にサンプル計測を承っております。
サンプル1つからお見積りいたしますので、お気軽にご相談ください。
(例:サンプル1点、計測箇所3点で20万円~ ※サンプルの種類により異なりますので、詳しくはお問い合わせください。)

製品の価格

標準価格 ¥9,500,000円(税別)~

  • 2024年7月現在の価格になります。
  • 価格については、予期なく変更する場合があります。

主な特長

シンクランド製OCTの特徴は、測定対象やご要望に応じた解析ソフトの作製と光源の選定からステージ形状の最適化を含むあらゆるカスタマイズに対応可能なところです。

アプリケーションは

  • レーザー溶接時の形状測定
  • 多層フィルムの欠陥観察
  • ガラスの加工表面や内部の観察
  • シリコンウェハのキズや内部欠陥の観察
  • 皮膚や血管など生体の動的観察
    など多岐に渡ります。

 

 

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